基礎から学ぶ半導体の品質・信頼性工学
【講師】元熊本大学 客員教授 松田 幸正【受講料】33,000円（税込）
半導体の品質と信頼性について基礎知識を体系的、工学的に理解、修得します。具体的には品質と信頼性の考え方、物理的解釈と数値表現、試験方法と予測・保証のしかた、高品質・高信頼性に向けた進め方・取り組み、などを学びます。
※講座テキストは、「関連ファイルダウンロード」からダウンロードできます（閲覧用パスワード付きPDFファイル）。
パスワードは、同じ場所に掲載の’’パスワード.pdf’’をご確認ください。
なお、ダウンロードした講座テキスト等を第三者に提供、また閲覧させることは禁じられています。
このセットの最終動画を最後まで視聴すると［受験する］ボタンが表示されます。受験の上、合格すると修了証をダウンロードできます。
【総動画時間】
約4時間20分
【受講対象・予備知識】
・半導体製品の品質・信頼性保証について知識をふやしたい方。
・半導体製品の品質・信頼性業務に携わっている方、品質と信頼性の詳細を知りたい方。
・具体的な対象者は、半導体設計・プロセスエンジニア、製品エンジニア、品質・信頼性に携わる作業者、エンジニア、管理者の方。
・弊センターの講座「よくわかる半導体超入門ⅠⅡⅢ」を受講済か同等レベルの方。
【到達目標】
・半導体の品質と信頼性の概念、品質と信頼性目標を達成するための手法を理解すること。
【学習環境】
テキスト
【目次】
1章 品質と信頼性の考え方
・品質と信頼性の定義、目的、表現方法
・品質と信頼性の関係
2章 信頼性と確率分布
・信頼度関数と故障率分布
・半導体の故障率
3章 故障物理と故障解析
・半導体の故障メカニズム
・半導体の故障対策
4章 信頼性試験
・加速の理論と試験方法
・半導体の信頼度予測
5章 品質と信頼性の保証
・品質と信頼性の作り込み
・保証ということ、保証のしかた
6章 まとめ
・半導体の品質、信頼性確保の進め方
・究極の品質・信頼性
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